print

Недавние Статьи

Два направления JTAG Technologies
Производство Электроники, №3, 2010

 

Ключевые моменты тестопригодной разработки
Электронные Компоненты, №4, 2010

 

Периферийное сканирование в жизненном цикле изделия

Производство Электроники, №2, 2010

 

Новые возможности тестирования плат при помощи периферийного сканирования

Поверхностный Монтаж - Март, 2010 

 

Boundary-scan for Functional Test

Article published in Embedded Systems Design Europe - February/ March 2010.   

 

Выбор тестовой стратегии при производстве цифровой и аналогово-цифровой техники

Поверхностный монтаж - №1.2010

 

Оптимизация тестовой стратегии при производстве цифровой техники 

Поверхностный Монтаж- №6.2009

 

Аппаратное обеспечение системы ProVision фирмы JTAG Technologies

Производство Электроники - 7-8.2009

 

JTAG for functional test

Electronics Manufacture & Test - November 2009

 

Построение успешной стратегии тестирования 

Производство Электроники - Октябрь, 2009

 

Тестопригодность электронных изделий как залог успеха предприятия

Отрасль высоких технологий. Возможности и перспективы - Сентябрь, 2009

 

The missing link

New Electronics - May 2009 

 

See the benefits

Electronics Assembly - April 2009

 

Looking without touching

Electronics Assembly - February 2009

 

Q5 Interview with Peter van den Eijnden

Electronicsweekly.com - January 2009 

 

 

 

 

Articles archive

Articles 2008 

 

Articles 2007

 

Articles 2006

We Are Boundary Scan