Движение в будущее: грядущие стандарты периферийного сканирования.

Существует несколько рабочих групп института IEEE по созданию новых стандартов периферийного сканирования. Несомненно, что работа этих групп приведет к публикации официальных стандартов, которые будут применяться при разработке новых кристаллов ИМС и при тестировании плат и систем. Основные усилия прилагаются к созданию следующих спецификаций:

IEEE 1149.7:  Расширение стандарта 1149.1, которое полностью совместимо с ним. Разработка стандарта направлена на уменьшение количества выводов JTAG-интерфейса и увеличения его функциональности.

IEEE P1581:  Данная рабочая группа определяет стандартный протокол для тестирования межсоединений с недорогими ИМС памяти, где дополнительные выводы, необходимые для тестирования, не доступны, и применение периферийного санирования для тестирования данных ИМС памяти не представляется возможным. Так как тестирование межсоединений с большинством из существующих типов микросхем памяти уже давно возможно при помощи IEEE 1149.1 и встроено в JTAG ProVision, работа с P1581 может быть добавлена в будущем как альтернативный подход.

SJTAG:  Работа над протоколом все еще в начальной стадии и до сих пор не создана рабочая группа в рамках института IEEE. Цель усилий по созданию группы - стандартизация методов для JTAG-тестирования на системном уровне. Функциональность тестирования систем из множества плат уже давно поддерживается в JTAG ProVision с использованием коммерческих коммутирующих микросхем от National Semiconductor, Texas Instruments, Lattice Semiconductor и Firecron.

JTAG Technologies будет продолжать тесно работать с данными рабочими группами и поддерживать усилия по созданию новых стандартов. Для получения более подробной информации вы можете зайти на официальный сайт института IEEE.