Система Symphony компании JTAG Technologies: объединенная согласованная методика

Такие традиционные методы, как внутрисхемный тест (ICT - In-Circuit Testing) и тестирование при помощи установок с летающими щупами (flying probe) до сих пор широко распространены. Во внутрисхемных тестерах (In-Circuit Testers, ICT) обычно для каждой платы используется отдельная оснастка, содержащая огромное количество тестовых пробников (игл). Через такие пробники подается электрическое воздействие на элементы схемы, а затем снимается отклик.

Принцип работы систем flying probe также основывается на физическом контакте с тестовыми точками на плате. В зависимости от модели установки число тестовых пробников может колебаться от 4 до 24. Производя измерения, щупы двигаются с огромной скоростью, позволяя производить тестирование без применения адаптера.

Сложность плат и плотность монтажа увеличивается с каждым годом, поэтому внутрисхемное тестирование и системы flying probe теряют свои позиции из-за дефицита тестовых точек на современных изделиях. Это и повлекло за собой появление периферийного сканирования - самой передовой из методик тестирования. Однако отдельные части современных устройств до сих пор очень хорошо приспособлены для классических методов - ICT и flying probe. Например, аналоговая часть комплексной аналого-цифровой платы. В таких случаях при выборе тестовой стратегии можно рассмотреть применение комбинированной системы Symphony, в которой для тестирования цифровой части платы используются инструменты JTAG Technologies, интегрированные во внутрисхемный или функциональный тестер. В результате получается полноценная тестовая стратегия с высоким охватом как аналоговой, так и цифровой части. При этом используется единая платформа. Мы предлагаем варианты Symphony, совместимые с большинством наиболее популярных тестовых систем.

• Symphony для 3070: комбинирует наше программное обеспечение и аппаратные средства для периферийного сканирования с системой Agilent 3070. Работает как на базе Windows, так и на базе HP-UX. Уникальным компонентом, дополняющим нашу систему 3070 Symphony, является контроллер JT 37x7/APC. Этот модуль вставляется в стандартный карточный слот тестовой установки Agilent 3070 и, таким образом, делает интеграцию периферийного сканирования в данный тестер делом двух минут.

• Symphony TS/DSM и Symphony TS/CFM: для внутрисхемных тестеров Teradyne (изначально - GenRad). Частью решения для интеграции является CFM-модуль (Custom Function Module), который обеспечивает изоляцию между контроллером и внутрисхемным тестером.

• Symphony APT-9000: для установок с летающими щупами серии APT-9400 Takaya.

• Symphony 3030 SPEA: для систем компании SPEA. Специальное решение для установки SPEA 3030 - это модуль SAM (SPEA Adapter Module), который упрощает интеграцию периферийного сканирования в данный тестер.

Другие решения для интеграции программного обеспечения и аппаратных средств JTAG Technologies доступны у наших OEM-партнеров.