Семинары

Семинары по периферийному сканированию в России и СНГ

На семинарах рассматриваются основы технологии периферийного (граничного) сканирования и принципы тестирования плат и систем при помощи данного метода. Проводится практическая демонстрация разработки тестов, тестирования и диагностики дефектов на экспериментальной плате. Большое количество времени уделяется тестопригодной разработке изделий для обеспечения максимального тестового покрытия.

Информация о семинаре 1 Ноября 2011 года на выставке ChipEXPO.

1 Ноября в рамках выставки ChipExpo-2011 компания JTAG Technologies проведет 2-х часовой семинар: «Автоматическая генерация JTAG-тестов и использование скриптов» с практической демонстрацией работы в автоматических системах проектирования и тестирования демонстрационной платы.

В программе семинара:

• ·        Автоматическая генерация тестовых векторов для межкомпонентных связей
• ·        Автоматическая генерация тестов для функциональной логики печатного узла (включая память)
• ·        Использование скриптов для создания пользовательских тестовых приложений
• ·        Практическая демонстрация

Начало семинара в 11:00 1 Ноября в Мраморном зале.