Периферийное (граничное) сканирование JTAG, основанное на стандартах IEEE.

Компания JTAG Technologies всегда была активным участником и спонсором разработки промышленных стандартов. В действительности, мы возглавляли самую первую рабочую группу в конце 80-х. И эти усилия привели к созданию спецификации IEEE 1149.1, которая потрясла тестовый мир. Этот стандарт определяет технологию периферийного (граничного) сканирования и был утвержден в 1990-м году. После этого стандарт был обновлен дважды. IEEE 1149.1 (JTAG) определяет дополнительную тестовую логику внутри микросхемы, которая может быть использована для осуществления точного тестирования цепей на плате, куда установлена микросхема, и программирования ПЛИС и флэш.

С момента выхода IEEE 1149.1 появились три других стандарта, каждый из которых построен на основе 1149.1 и имеет некоторые расширения для специфических целей.

IEEE 1149.4 - стандарт аналогового периферийного сканирования, утвержденный в 2000 году и  IEEE 1149.6, часто называемый AC-EXTEST, выпущенный в 2003 году, расширяют возможности JTAG-тестирования, добавляя в тест новые типы соединений.

Третий стандарт, IEEE 1532- устанавливает более производительный формат программирования логических устройств, таких как PLD и FPGA, так что несколько таких устройств, соединенных в цепочку, могут конфигурироваться одновременно при помощи периферийного сканирования.

Также существует ряд рабочих групп по созданию новых стандартов JTAG. Среди них следующие:

• IEEE 1149.7, также известный как JTAG с сокращенным числом выводов.

• P1581, расширение для более «продвинутого» тестирования устройств памяти.

• SJTAG, расширение для тестирования на системном уровне.

JTAG Technologies будет продолжать тесно работать со всеми этими группами для поддержки и воплощения новых стандартов в жизнь.