JTAG ProVision - высококачественные результаты при совершенной простоте использования
Основываясь на нашем многолетнем производственном опыте и технических знаниях, мы усовершенствовали наше классическое программное обеспечение и создали JTAG ProVision, который быстро заслужил признание как лучший инструмент для разработки любых приложений с использованием технологии периферийного сканирования. Это единственный программный продукт, который сочетает в себе автоматизацию и достаточную свободу для контроля со стороны пользователя. С ProVision вы сможете довольно быстро создавать тесты и приложения для внутрисистемного программирования, а затем оценивать и улучшать тестовое покрытие. Рассмотрим некоторые функциональные возможности и преимущества:
| Поддержка плат как с одним, так и с несколькими каналами периферийного сканирования, а также сложных блоков, состоящих из нескольких плат. | Максимальная гибкость и минимальные ограничения для системных разработчиков. Быстрая подготовка тестов и процедур внутрисистемного программирования даже для систем со сложной архитектурой. |
Мастер проектирования для всех типов приложений. | Не требует обучения. Позволяет быстро включится в работу, даже если вы не использовали ProVision долгое время. |
Улучшенный интерфейс проекта. | Оптимизирует проект для получения максимального тестового покрытия. |
Интеграция с JTAG Visualizer | Позволяет увидеть результаты тестирования непосредственно на схематике или топологии. |
Анализ тестового покрытия. | Позволяет узнать тестовое покрытие до окончательной разводки платы, a так же сравнить реальные результаты с теми, которые возможно достигнуть для вашей разработки. |
Автоматизация базируется на обширной библиотеке готовых моделей компонентов. | Ускоряет создание проектов для тестирования и программирования. |
Поддержка стандарта IEEE 1149.6 | Автоматическая разработка тестов для определения неисправностей в современных цифровых сетях, таких как LVDS, с точностью до вывода. |
Использование JTAG ProVision показало, что не нужно искать компромисс между простотой в использовании и высококачественными результатами. Убедитесь в этом сами:
JTAG Functional Test (JFT)
JFT представляет из себя принципиально новый метод разработки тестов для так называемых «кластеров» - частей платы, где нет поддержки периферийного сканирования JTAG. В отличие от традиционного, векторно-ориентированного, подхода, JFT - это языковой метод, позволяющий писать программы, используя открытый язык программирования Python и создавая тесты даже для сложнейших «кластеров», требующих последовательностей воздействий.
Благодаря возможности стимуляции и считывания уровней, как отдельных выводов микросхем, так и их групп, а так же использованию связующих алгоритмов, пользователи могут создавать более сложные тесты для микросхем без поддержки JTAG или функции, охватывающие групповые «кластеры», состоящие из нескольких устройств. JFT упрощает тестирование аналого-цифровых компонентов, таких как ЦАП и АЦП, а также верификацию частей схемы, требующих вмешательство пользователей, циклы загрузки регистров и т.д.
Загрузить спецификацию по JFT.
