Вспомогательные модули для расширения области применения периферийного сканирования.

Оптимизация уровня тестопригодности и производительность программирования являются важными аспектами при разработке ваших приложений для периферийного сканирования. Вы можете ознакомиться с нашей брошюрой по тестопригодному проектированию, где вы найдете полезные советы и рекомендации для того, чтобы получить от технологии периферийного сканирования максимальную отдачу.

Один из наиболее эффективных путей увеличить тестовое покрытие - это использование DIMM-модуля. Мы предлагаем широкий диапазон различных DIMM-модулей, которые являются дополнительными ресурсами, поддерживающими периферийное сканирование, и позволяют получить доступ к ранее недоступным областям платы. DIMM-модуль, например, можно использовать для тестирования через краевые разъемы платы, получая доступ к несканируемым компонентам. Вы можете оценить преимущества использования дополнительных модулей, используя утилиту оценки тестового покрытия, входящую в состав пакета JTAG ProVision.

Существует два вида DIMM-модулей: модуль цифрового ввода/вывода общего назначения (Digital I/O Scan, DIOS) и модуль тестирования разъемов (Socket Test Module, STM). DIOS-модули совместимы со стандартными 168-контактными разъемами DIMM и могут работать при различных уровнях напряжения и тактовой частоты (до 45 МГц). В некоторых DIOS реализована функция программирования, что позволяет использовать их для расширенного функционального тестирования.

Типичное применение STM-модуля - это тестирование контактных разъемов на проверяемой плате. Имеются STM-модули с количеством контактов от 100 до 300, включая несколько внешних выводов.

Для того чтобы получить более подробную информацию, вы можете ознакомиться с брошюрами по DIOS-модулям.

Мы также предлагаем широкий выбор аксессуаров и дополнительных модулей для упрощения операций периферийного сканирования и специальных нужд.