Периферийное сканирование, адаптированное к вашему производственному оборудованию.

Никто, кроме JTAG Technologies не предлагает такого широкого спектра встраиваемых решений для существующего оборудования. Вы можете воспользоваться полнофункциональным секвенсором тестовых приложений от JTAG Technologies или использовать свои собственные программы для выполнения операций периферийного сканирования. Вы можете создать автономную станцию на базе ПК или совместить периферийное сканирование практически с любым типом внутрисхемного тестера, установки с «летающими щупами» (flying probe), функционального тестера. Во многих случаях комбинация периферийного сканирования с другими видами тестирования дает максимальные преимущества, позволяя экономить использование производственных площадей, снизить требования к квалификации персонала и улучшить организацию всего производственного цикла.

Список поддерживаемых производителей внутрисхемных тестеров и систем flying probe достаточно велик: Agilent 3070 (поддержка как Windows, так и HP-UX платформ), Teradyne, TestStation, Digital Test, Aeroflex, SPEA, Seica и Takaya. Для того чтобы встроить периферийное сканирование в функциональное тестирование вы можете воспользоваться платформой TestStand от National Instruments с нашими дополнениями или создавать собственные программы, используя LabVIEW, LabWindows или любой другой DLL-ориентированный язык, например C++. Проверьте наши Интегрированные Производственные Пакеты, Системы Symphony и ряд OEM систем.

С дополнительной информацией о возможных вариантах можно ознакомиться в наших производственных брошюрах. Если вы хотите обсудить конкретно вашу ситуацию и возможность интеграции периферийного сканирования, свяжитесь с нами.